原位 XPS 原位 X 射线光电子能谱测试表面动态价态表征 - 研途有你科研测试平台

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项目介绍

本项目支持耦合光照、高温、气氛调控以及电化学条件开展原位 XPS 测试。单个样品默认检测 1 个点位，如需多点位采集将按点位单独计费；XPS 测试结果属于半定量数据，原子百分含量低于 5% 的元素有可能无法检出明显信号；测试默认采用单色化 Al 靶（Al Kα 光源，光子能量 1486.68 eV）。

项目案例

样品要求

1. 样品状态：要求块状、薄膜、粉末样品；

2. 粉末样品：至少10mg；

3. 块状/薄膜样品：尺寸小于10*10*3mm，最佳尺寸小于5*5*2mm；需标记好测试面；

4. 液体样品：需制好样干燥后再测试；制样方法：(悬浊)、离子液体、膏状等样品可滴到Si片、聚乙烯/聚丙烯、金属片、滤膜、滤纸、树脂、海绵等固体基片上晾干或冷冻干燥后上机测试（注意正确选择基底，避免干扰）；

5、注意：

①易氧化的样品建议手套箱制样，也请抽真空后送样；

②XPS是高真空环境测试的，所以要求样品要充分干燥，易吸湿样品请提前说明；

③不能测试含硫、氟、氯、溴、碘单质等易挥发成分的样品；

④样品含有放射性元素请提前说明；

⑤块状/薄膜样品表面请用乙醇擦拭干净或抽真空来样，接触空气容易受C、N、O、Si等元素污染，测试结果可能会有误差；

⑥样品是用胶带固定到样品台上，回收的样品会有污染或损坏/损失，不建议回收样品！

常见问题

1.原位 XPS 和常规 XPS 的区别是什么？

常规 XPS 仅能对样品进行静态表征，获取测试前样品表面元素与价态信息；原位 XPS 可在控温、气氛、电化学等模拟实际反应的工况下，连续采集样品表面的元素与价态变化，实时追踪反应过程中界面物质的动态演变，多用于催化、材料界面反应机理研究。

2.原位 XPS 测试为什么容易出现 C、N、O 等元素的干扰？

样品暴露在大气环境中，表面会吸附空气中的碳氢污染物、水汽等，引入 C、N、O、Si 等外来元素，影响测试结果。因此建议样品提前乙醇清洁、预抽真空处理；对于极易氧化的样品，寄送与转移过程也需要做好隔绝空气保护。

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