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X射线荧光光谱(XRF)

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项目介绍

可测元素范围:常规测试范围9F-92U,块体样品可以测O,粉末样品不能测O

制样方法:压片、融片

结果模式:单质、氧化物

一般是半定量测试,测到的都是元素含量,氧化物含量也是根据单质含量进行换算的,无法区分元素价态,可作为一种快速的无损分析

项目案例

样品要求

1. 样品状态:可为粉末、块状、薄膜样品

2. 粉末样品:粉末样品需要至少2 g ,最好3 g以上,样品在测试之前尽量干燥,可以过200目筛的样品,颗粒过大的样品需要先研磨过筛后进行测试

3. 块状、薄膜样品:块体要求表面平整光洁无污染,对角线/直径4cm以内大于3cm

常见问题

仪器的检测限多少?元素含量低于多少结果会不可靠?

理论上仪器的检测限为ppm—100%,但实际上 当元素含量低于1%时测量会存在误差,结果只能做为参考

XRF对样品有什么要求,片状样品可以测试吗?

XRF样品最好磨成粉末,且样品量确保在3g以上,因为需要和淀粉压片后测试,如果样品量太少,会导致结果不准确。

片状样品要求表面平整光洁无污染,直径34-38 mm,厚度为3-5 mm的圆柱;只能定性+半定量,如需准确定量最好是粉末,且颗粒大的必须磨成粉;

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