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X射线荧光光谱(XRF)

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项目介绍

可测元素范围:常规测试范围9F-92U,块体样品可以测O,粉末样品不能测O

制样方法:压片、融片

结果模式:单质、氧化物

一般是半定量测试,测到的都是元素含量,氧化物含量也是根据单质含量进行换算的,无法区分元素价态,可作为一种快速的无损分析

项目案例

样品要求

1. 样品状态:可为粉末、块状、薄膜样品

2. 粉末样品:粉末样品需要至少2 g ,最好3 g以上,样品在测试之前尽量干燥,可以过200目筛的样品,颗粒过大的样品需要先研磨过筛后进行测试

3. 块状、薄膜样品:块体要求表面平整光洁无污染,对角线/直径4cm以内大于3cm

常见问题

1.XRF 为什么属于表层分析,不能测样品内部整体元素? 

X 射线的穿透能力有限,荧光信号仅来自样品表层几微米范围。如果样品存在镀层、表面污染或者内部成分不均,测试结果只能代表表面,无法反映样品本体内部元素信息。

2.轻元素(如 Na、Mg)做 XRF 测试难度更高是什么原因? 

轻元素产生的荧光 X 射线能量低,容易被空气、样品基体吸收,信号弱,检出限相对更高;样品表面不平整、粗糙都会进一步降低轻元素的测试信号,制样需要保证表面平整光滑。


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