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表面光电压谱仪测试

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项目介绍

测试样品的瞬态和稳态表面光电压,稳态是通过测量由于光照在半导体材料表面产生的表面电压来获得少数载流子扩散长度的方法。

项目案例

样品要求

粉末样品大于100mg,薄膜样品大于1*1.5cm

常见问题

接触不良或压片/压紧条件不一致,导致SPV信号偏弱或重复性差。


部分客户送测粉末或薄膜样品时,未注意样品与电极之间的接触状态。SPV测量的是光照前后表面电位的变化量,信号本身处于微弱量级,接触质量(压紧力、表面平整度)对信号影响极大。压紧力过松会导致接触不良、信号偏小;压紧力过紧则可能压碎样品或引入应力,同样干扰结果。粉末样品压片压力不一致时,堆积密度变化会改变光穿透与电荷传输路径,两次测试曲线可能出现明显差异。此外,薄膜样品表面不平整会造成局部接触、局部悬空,使信号强弱混入形貌因素而非材料本征响应。
建议: 送测前确保样品表面平整、厚度均匀;粉末样品请在委托单中注明压片条件,同一组对比样品务必保持压片压力一致;薄膜样品注意基底是否导电,并清洁电极表面(如ITO)以去除有机污染,避免引入额外电位差。若对接触方式或制样流程有疑问,请提前与技术顾问沟通确认。

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