同步辐射 SAXS/WAXS 测试小角广角 X 射线散射联用表征服务 - 研途有你科研测试平台

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项目介绍

当物质中存在纳米尺度的电子密度不均匀区（一般介于0.1~200 nm之间）时，X射线与之相互作用后会在原光束方向附近的很小角度内散开，该角域范围通常在几度以内（一般<3°），这种现象称为小角X射线散射（Small Angle X-ray Scattering，简称SAXS）。由于X射线主要与原子中的电子发生相互作用，因此SAXS对电子密度的不均匀性尤为敏感；凡存在纳米尺度电子密度不均匀区的物质，均可产生小角散射现象。

项目案例

样品要求

1.粉末样品：重量一般不少于50 mg；测试前请研磨至无明显颗粒感。
2.合金（或块状）样品：样品过厚时光束无法透过，因此需进行减薄处理（减薄过程中应避免改变样品内部结构）。合金样品的测试厚度一般要求为几微米至几十微米。
3.薄膜样品：若薄膜厚度不足，可将数片相同薄膜叠加后进行测试。
4.液体样品：样品量建议为0.5 mL，浓度适中；测试前请确认：①溶质在溶剂中完全溶解，无沉淀；②溶质与溶剂的电子密度差应尽可能大。

常见问题

小角散射（SAXS）主要应用有哪些？

SAXS可用于表征材料中纳米尺度电子密度不均匀区的结构信息，典型应用包括：

研究高分子材料内部片晶、孔洞等缺陷的微结构，以及高分子材料加工过程中的结构演变；
研究高性能纤维材料内部的缺陷微结构，以及纺丝成型过程中的动态结构演变；
研究胶体系统、纳米颗粒及多孔材料中散射体的尺寸分布、界面层及分形结构；
研究金属合金中颗粒或聚集态结构，以及冷热加工变形后的结构变化。

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