TSDC 热刺激电流测试热刺激去极化电流送样检测高分子绝缘材料表征 - 研途有你科研测试平台

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项目介绍

热刺激电流（TSC）的基本原理是：将试样夹在两电极之间，加热至一定温度使样品中的载流子激发，随后施加直流极化电压；经过一段时间使样品充分极化后，立即降温至低温，使各类极化被“冻结”。之后以恒定速率升温，同时记录试样经检流计短路后的去极化电流随温度的变化关系。TSC谱图通常为包含多个电流峰的曲线，每个峰对应一种特定的弛豫过程或陷阱能级。
由于固体电介质材料中与不同结构缺陷或化学杂质相联系的荷电粒子具有不同的微观参数（如活化能E、弛豫时间τ及陷阱能级等），采用热刺激法可较容易地将材料中不同活化能或陷阱能级的荷电粒子分离开来，从而获得各类荷电粒子的数量、弛豫时间、陷阱能级、迁移率等信息。因此，TSC是研究高聚物体内偶极松弛、陷阱参数、空间电荷的贮存与输运，以及聚合物结构松弛与转变、分子运动特征等电介质材料微观结构参数的有效方法。

项目案例

样品要求

1. 施加电压小于1000V时，可测温度范围-180-600℃，样品尺寸小于40mm；
2.施加电压1000-10000V时，可测温度范围是-180-300℃，样品尺寸大于80mm；
3.此测试样品需要提前做电极；

常见问题

TSC测试中为什么会出现谱图重复性差、峰形失真的情况？

常见原因是电极接触状态不一致或界面接触不良。TSC测试对试样与电极之间的接触条件非常敏感：若两次测试中接触势垒、有效电极面积、界面污染或界面态存在差异，注入载流子的数量和分布就会改变，陷阱填充程度随之不同，最终导致TSC谱图在峰形和电流大小上难以重复。若电极与样品贴合不紧密、存在微小气隙，还可能产生界面极化，在谱图中引入并非材料本征响应的“假峰”；非欧姆接触（如形成肖特基势垒）则会显著压低TSC信号，尤其在低温段，容易造成陷阱浓度低估或峰归属误判。

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